Overfladekarakteriseringslaboratorium

I vores overfladekarakteriseringslaboratorium, råder vi over noget af det mest avancerede udstyr til overfladekarakterisering og analyse, herunder 3D, mikroskopi og røntgen.

Herunder kan du læse mere om det udstyr vi bruger til at lave højtspecialiserede analyser på mange forskellige og komplicerede overflader.

Skanning Elektron Mikroskopi (SEM) med mikroanalyse

Vi råder over to typer SEM’er hvori man kan udføre overfladeanalyser i nanometeropløsning.

I det ene af SEM’erne er der indbygget en ionkilde (Focused Ion Beam – FIB), som muliggør analyser på og under overfladen. Er meget velegnet til at bestemme overflade og til at ”kigge ind i” overfladestrukturer. Populært kan man sige, at der er tale om en nano-svejtser-kniv, da man med nanometers præcision kan fjerne og opbygge materiale.

Med SEM'en har vi yderligere mulighed for at foretage følgende mikroanalyser:

EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) - elementanalyse i volumener ned til 1µm³
µ-XRF (µ-X-Ray Flourescens spektroskopi) - analyser i dybden(100-1000 µm)
WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) - analyser ned til ppm-niveau
EBSD (Electron BackScattered Diffraction) - mikrostrukturanalyse

Vi råder ligeledes over et ESEM (Environmental Skanning Elektron Mikroskop), som bl.a. kan karakterisere prøveemner, der er fugtige eller vandmættede. Dette muliggør analyser af eksempelvis biologiskmateriale uden dette udtørres.

Udstyrene har mange anvendelsesmetoder, da man både kan visualisere og analysere (for bl.a. grundstoffer). Vi har derfor mulighed for karakterisering af et meget bredt spektre af materialer i relation til undersøgelser af nye processer, fejlfinding, skades- og havarianalyser samt til en lang række andre formål, hvor mikroanalyse og visualisering er essentiel.

Avanceret optisk 3D profilometri med AFM (Atomic Force Microscopy)

Udstyret kan opmåle og visualisere overfladetopografier af stort set alle faste materialer i størrelsen fra nm til cm.

Er meget velegnet til at støtte virksomheder i udviklings- og designprocesser af nye materialer, samt i forbindelse med kvalitetssikring af disse. Højspecialiserede ruhedsmålinger helt ned i nano-niveau, også på ikke plane emner kan eksempelvis udføres på udstyret.

Røntgendiffraktion (XRD)

Udstyr til bestemmelse af den kemiske sammensætning af krystallinske materialer.

Desuden har vi tilgang til alle de ”konventionelle” kemiske undersøgelser, som Kemisk afdeling udbyder, således at vi kan udføre supplerende og kombinationsanalyser i forbindelse med avancerede karakteriseringer af diverse materialer.